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當前位置：首頁產品中心F20Filmetrics臺式薄膜厚度測量系統

Filmetrics臺式薄膜厚度測量系統
產品簡介：

F20 系列
世界上的臺式薄膜厚度測量系統
只需按下一個按鈕，您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率。設置同樣簡單, 只需插上設備到您運行Windows™系統計算機的USB端口, 并連接樣品平臺 , F20已在世界各地有成千上萬的應用被使用. 事實上，我們每天從我們的客戶學習更多的應用.

選擇您的F20主要取決於您需要測量的薄膜的厚度（確定所需的波長范圍）

產品型號：F20

更新時間：2019-05-06

廠商性質：代理商

訪 問 量 ：2086

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產品介紹

單點厚度測量--F20

一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺式測量系統。 測量 1nm 到 13mm 的單層薄膜或多層薄膜堆。

微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量--F40

當測量斑點只有1微米（µm）時，需要用您自己的顯微鏡或者用我們提供的整個系統。

自動厚度測量系統--F50

幾乎任何形狀的樣品厚度和折射率的自動測繪。人工加載或機器人加載均可。

自動化薄膜測繪

Filmetrics F50 系列的產品能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度。一個電動R-Theta 平臺可接受標準和客制化夾盤，樣品直徑可達450毫米。(耐用的平臺在我們的量產系統能夠執行數百萬次的量測!)

測繪圖案可以是極座標、矩形或線性的，您也可以創造自己的測繪方法，并且不受測量點數量的限制。內建數十種預定義的測繪圖案。

不同的 F50 儀器是根據波長范圍來加以區分的。 標準的 F50是受歡迎的產品。 一般較短的波長 (例如， F50-UV) 可用于測量較薄的薄膜，而較長的波長則可以用來測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。

在線厚度測量系統--F30

監測控制生產過程中移動薄膜厚度。高達100 Hz的采樣率可以在多個測量位置得到。

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